会议论文

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1 FaultTolerant Distributed Algorithms on VLSI Chips [会议论文]

作者:Dagstuhl Seminar

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摘要

2 Methods and Metrics for Reliability Assessment [会议论文]

作者:Lirida Alves de Barros Naviner, Jean-Franc¸ois Naviner, Denis Teixeira Franco,

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摘要

3 Multiple Event Upsets Aware FPGAs Using Protected Schemes [会议论文]

作者:Costas Argyrides, Dhiraj K. Pradhan

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摘要

4 Implications of VLSI Fault Models and Distributed Systems Failure Models— A Hardware Designer’s View [会议论文]

作者:Gottfried Fuchs

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摘要

5 Error Containment in the Presence of Metastability [会议论文]

作者:Andreas Steininger

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6 FaultTolerant Distributed Algorithms on VLSI Chips [会议论文]

作者:Bernadette Charron-Bost;Shlomi Dolev;Jo Ebergen;等

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摘要

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