| Atomic Force Microscope (AFM) measurements and analysis on Tinsley AIA-1000-003 primary substrate | |
| Soufli, R ; Baker, S L ; Robinson, J C | |
| Lawrence Livermore National Laboratory | |
| 关键词: Substrates; 36 Materials Science; 71 Classical And Quantumm Mechanics, General Physics; Physics; Microscopes; | |
| DOI : 10.2172/928196 RP-ID : UCRL-TR-221613 RP-ID : W-7405-ENG-48 RP-ID : 928196 |
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| 美国|英语 | |
| 来源: UNT Digital Library | |
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