Growth Temperature Dependency of High Al Content AlGaN Epilayers on AlN/Al2O3 Templates

Cumhuriyet Science Journal

İlkay DEMİR¹ 

关键词: AlGaN;    MOVPE;    AlN;    Al2O3;    X-ışını kırınımı;    Atomik kuvvet mikroskobu;   

DOI  :  10.17776/csj.453576

学科分类：工程和技术（综合）

来源: Cumhuriyet University

【 摘 要 】

Bu çalışmada, yüksek Al içerikli AlGaN epi-tabakaların MOVPE (Metalorganik Buhar Fazı Epitaksi) büyütmesi ve karakterizasyon çalışmaları rapor edilmiştir. AlGaN epi-tabakaların kristal kalitesi ve yüzey morfolojisi analizi için yüksek çözünürlüklü X-ışını kırınımı (HRXRD) ve atomik kuvvet mikroskobu teknikleri kullanılmıştır. Büyütme sıcaklığının AlGaN epi-tabakalarının yapısal kalitesi ve yüzey morfolojisi üzerindeki rolü incelenmiştir. Büyütme ve ölçüm sonuçları AlN/Al₂O₃ şablonu üzerine tek fazda AlGaN epi-tabakaların büyütüldüğünü göstermektedir. Artan büyütme sıcaklığının AlGaN'in Al içeriğini arttırdığı ve bunun AlGaN alaşım konsantrasyonunu kontrol etmeye olanak sağladığı sonucuna varılmıştır. Ayrıca, AlGaN epi-tabakalarındaki Al içeriğinin artışı pürüzsüz yüzeye yol açar ki bu dislokasyon yoğunluğunun azaldığını belirtir. In this work, MOVPE (Metalorganic Vapor Phase Epitaxy) growth and characterization studies of high Al content AlGaN epilayers are reported. We utilize high resolution X-ray diffraction (HRXRD) and atomic force microscope (AFM) techniques to analyze the crystalline quality and surface morphology of AlGaN epilayers. The role of the growth temperature of AlGaN epilayers on the structural quality and the surface morphology was investigated. Growth and measurement results show that single phase AlGaN epilayers were grown on AlN/Al₂O₃ template. It is concluded that the increasing growth temperature increases the Al content of AlGaN epilayers which enable to control the alloy concentration of AlGaN. Furthermore, the increasing Al content in AlGaN epilayers leads to the smooth surface which indicates that the decreasing number of dislocation density.

【 授权许可】

CC BY-NC-ND