| Optica Applicata | |
| Characterization of the different energy-gap multilayer structures using near field microscopy | |
| Roman Szeloch1 Andrzej Sikora1 Eugeniusz Prociow1 | |
| 关键词: thin films; contact phenomena; near field microscopy; AFM; silicon carbide; | |
| DOI : | |
| 学科分类：光谱学 | |
| 来源: Politechnika Wroclawska * Oficyna Wydawnicza / Wroclaw University of Technology | |
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