| IUCrJ | |
| Real-time direct and diffraction X-ray imaging of irregular silicon wafer breakage | |
| Danilewsky, A.N.1 Rack, A.1 Scheel, M.1 | |
| 关键词: MATERIALS SCIENCE; X-RAY DIFFRACTION IMAGING; PHASE-CONTRAST X-RAY IMAGING; TIME-RESOLVED STUDIES; | |
| DOI : 10.1107/S205225251502271X | |
| 学科分类：数学（综合） | |
| 来源: International Union of Crystallography | |
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