| IUCrJ | |
| Cracks observed to propagate discontinuously on the millisecond timescale | |
| Tanner, B.K.1 | |
| 关键词: SILICON WAFERS; CRACK PROPAGATION; X-RAY DIFFRACTION IMAGING; PHASE-CONTRAST X-RAY IMAGING; TIME-RESOLVED STUDIES; | |
| DOI : 10.1107/S2052252516002359 | |
| 学科分类：数学（综合） | |
| 来源: International Union of Crystallography | |
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