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International Journal of Technology
Dual Material Pile Gate Approach for Low Leakage Finfet
Sanjay S.Chopade1 
关键词: Bulk FinFET;    Charge accumulation;    Leakage current;    Lower doping;    Pile Gate FinFET;   
DOI  :  10.14716/ijtech.v8i1.3699
学科分类:工程和技术(综合)
来源: Universitas Indonesia
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