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1 Critical Vacancy-Driven Phenomena in High-Energy Ion-Implanted Silicon [科技报告]

作者:Haynes, T E

发布日期:2008

关键词:ATOMS;DEFECTS;...

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2 Moore's law and the impact on trusted and radiation-hardened microelectronics. [科技报告]

作者:Ma, Kwok Kee

发布日期:2011

关键词:AVAILABILITY;DESIGN;...

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3 Extremely high frequency RF effects on electronics. [科技报告]

作者:Loubriel, Guillermo Manuel;Vigliano, David;Coleman, Phillip Dale;等

发布日期:2012

关键词:ATTENUATION;ILLUMINANCE;...

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4 Final report for CCS cross-layer reliability visioning study [科技报告]

作者:Quinn, Heather M, Dehon, Andre, Carter, Nicj

发布日期:2010

关键词:COMPUTERS;ENERGY ACCOUNTING;...

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5 Solution methods for very highly integrated circuits. [科技报告]

作者:Nong, Ryan;Thornquist, Heidi K.;Chen, Yao;等

发布日期:2010

关键词:AUTOMATION;DESIGN;...

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6 Juvenile Salmon Acoustic Telemetry System Transmitter Downsize Assessment [科技报告]

作者:Carlson, Thomas J., Myjak, Mitchell J.

发布日期:2010

关键词:INTEGRATED CIRCUITS;MATERIAL SUBSTITUTION;...

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