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× GE SEMICONDUCTOR DETECTORS
作者:Elliott, Steven Ray
发布日期:2015
关键词:STANDARD MODEL;GE SEMICONDUCTOR DETECTORS;...
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2 Efficiency of TTAC's ORTEC IDM [科技报告]
作者:Livesay, Jake;Combs, Jason C;Margrave, Timothy E;等
发布日期:2012
关键词:DETECTION;EFFICIENCY;...
发布机构:
作者:Overman, Nicole R.;Overman, Cory T.;Kafentzis, Tyler A.;等
发布日期:2012
关键词:COPPER;DECAY;...
发布机构:
作者:Kouzes, Richard T., Zhu, Zihua, Engelhard, Mark H.
发布日期:2011
关键词:DECAY;GE SEMICONDUCTOR DETECTORS;...
发布机构:
作者:Friedrich, S
发布日期:2011
关键词:AR FACILITIES;DESIGN;...
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6 NID Copper Sample Analysis [科技报告]
作者:Kouzes, Richard T., Zhu, Zihua
发布日期:2011
关键词:COPPER;DECAY;...
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