• 已选条件：
  • × International Workshop "Advanced Technologies in Material Science, Mechanical and Automation Engineering – MIP: Engineering – 2019
  • × Siberian Federal University, Svobodny pr. 79, Krasnoyarsk
  • × Electronic component
 全选  【符合条件的数据共：1条】

1 Nonparametric algorithm of electronic components test data pattern recognition [会议论文]

作者:Koplyarova, N.V.^1;Chzhan, E.A.^1;Medvedev, A.V.^1;等

关键词:Electronic component;Non destructive testing;...

会议举办机构:Siberian Federal University, Svobodny pr. 79, Krasnoyarsk

会议时间:2019

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