• 已选条件：
  • × 115409, Russia^1
  • × Yield Improvement
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1 Parametric and topological methods of bulk CMOS IP-blocks yield improvement [会议论文]

作者:Gerasimov, Y.M.^1, Grigoryev, N.G.^1, Kobylyatskiy, A.V.^1

关键词:Bulk CMOS;Nanometer VLSI;...

会议举办机构:National Research Nuclear University MEPhI, Moscow Engineering Physics Insitutute, Kashirskoe shosse 31, Moscow

会议时间:2019

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