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  • × 22453-900, Brazil^2
  • × Primary standards
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1 The interference Linnik type microscope (IM) developed at Inmetro [会议论文]

作者:Malinovski, I.^1;Couceiro, I.B.^1;Lima, M.S.^1;等

关键词:Frequency stabilized lasers;High resolution;...

会议举办机构:Optical Metrology Division, National Institute of Metrology Quality and Technology, INMETRO, Av. N. S. das Graças 50, Xerém, Duque de Caxias, RJ

会议时间:

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