• 已选条件:
  • × 5th International Conference: Modern Technologies For Non-Destructive Testin
  • × Measuring frequency
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作者:Chetvertakova, E.S.^1, Chimitova, E.V.^1

关键词:Degradation process;Failure Probability;...

会议举办机构:Novosibirsk State Technical University, Novosibirsk, Russia^1

会议时间:2017

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