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  • × 10523, United States^1
  • × Iterative development
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1 Integrated Cryogenic Electronics Testbed (ICE-T) for Evaluation of Superconductor and Cryo-Semiconductor Integrated Circuits [会议论文]

作者:Dotsenko, V.V.^1;Sahu, A.^1;Chonigman, B.^1;等

关键词:Cryogenic applications;Cryogenic electronics;...

会议举办机构:HYPRES Inc., 175 Clearbrook Road, Elmsford

会议时间:2017

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