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  • × 14th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surface
  • × Industrial product
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1 Challenges in Measurement of Surface Topography beyond Micro-scale [会议论文]

作者:Goto, T.^1

关键词:3-D surface measurement;Industrial manufacturing;...

会议举办机构:Mitutoyo Corp., SE-Sankyo Bldg., Kita-ku Kita 7-jyo Nishi 1-chome 1-2, Sapporo, Japan^1

会议时间:

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