• 已选条件:
  • × X-Ray Microscopy Conference 201
  • × Carbon K-edge
 全选  【符合条件的数据共:1条】

作者:Swaraj, S.^1;Belkhou, R.^1;Stanescu, S.^1;等

关键词:Absorption edges;Beamline optics;...

会议举办机构:Synchrotron SOLEIL, L'Orme des Merisiers, Saint-Aubin-BP 48, Gif-sur-Yvette Cedex

会议时间:2017

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