会议论文

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× Darlington transistor

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1 Method for Building Health Index of Darlington Transistor Based on KPCA and Mahalanobis Distance [会议论文]

作者:Liu, Qiang^1;Cheng, Jinjun^1;Tan, Yangbo^1;等

关键词:Accelerated degradation testing (ADT);Collector currents;...

会议举办机构:College of Aerospace Engineering, Air Force Engineering University, Xian

会议时间:2018

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摘要

京公网安备340104078870146号 878987797 028-85220240

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