| Real-Time X-ray Studies of Surface and Thin Film Processes | |
| Ludwig, Karl1 | |
| [1] Boston Univ., MA (United States) | |
| 关键词: x-rays; XPCS; GISAXS; film growth; | |
| DOI : 10.2172/1248336 RP-ID : 1 PID : OSTI ID: 1248336 |
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| 学科分类：材料科学（综合） | |
| 美国|英语 | |
| 来源: SciTech Connect | |
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