Microscopia de varredura por sonda (SPM) aplicada a aços inoxidáveis dúplex

Rem: Revista Escola de Minas

Fabricio Simão Dos Santos²  Simoni Maria Gheno¹  Sebastião Elias Kuri¹ 

[1] ,UFScar PPG-CEM

关键词: Aço inoxidável dúplex;    crescimento de filme;    SPM;    microestrutura;    Duplex stainless steel;    film growth;    SPM;    microstructure;   

DOI  :  10.1590/S0370-44672007000100028

来源: SciELO

【 摘 要 】

Nesse trabalho, a microscopia de varredura por sonda (Scanning Probe Microscopy - SPM), nos modos contato (Atomic Force Microscopy - AFM) e de força magnética (Magnetic Force Microscopy - MFM), foi utilizada para analisar a microestrutura de um aço inoxidável dúplex 2205 solubilizado e envelhecido. Foi feita uma análise por AFM da superfície do aço solubilizado após crescimento de filme passivo. Por AFM, obteve-se indicação de crescimento de filme sobre a microestrutura do aço solubilizado, enquanto por MFM a distribuição de fases pôde ser observada sem a necessidade de ataque da superfície.

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