Rem: Revista Escola de Minas | |
Microscopia de varredura por sonda (SPM) aplicada a aços inoxidáveis dúplex | |
Fabricio Simão Dos Santos2  Simoni Maria Gheno1  Sebastião Elias Kuri1  | |
[1] ,UFScar PPG-CEM | |
关键词: Aço inoxidável dúplex; crescimento de filme; SPM; microestrutura; Duplex stainless steel; film growth; SPM; microstructure; | |
DOI : 10.1590/S0370-44672007000100028 | |
来源: SciELO | |
【 摘 要 】
Nesse trabalho, a microscopia de varredura por sonda (Scanning Probe Microscopy - SPM), nos modos contato (Atomic Force Microscopy - AFM) e de força magnética (Magnetic Force Microscopy - MFM), foi utilizada para analisar a microestrutura de um aço inoxidável dúplex 2205 solubilizado e envelhecido. Foi feita uma análise por AFM da superfície do aço solubilizado após crescimento de filme passivo. Por AFM, obteve-se indicação de crescimento de filme sobre a microestrutura do aço solubilizado, enquanto por MFM a distribuição de fases pôde ser observada sem a necessidade de ataque da superfície.
【 授权许可】
CC BY
All the contents of this journal, except where otherwise noted, is licensed under a Creative Commons Attribution License
【 预 览 】
Files | Size | Format | View |
---|---|---|---|
RO202005130133163ZK.pdf | 168KB | download |