| Optica Applicata | |
| Absorptive CdTe films optical parameters and film thickness determination by the ellipsometric method | |
| Anna Z. Evmenova1 Volodymyr A. Odarych1 Mykola V. Vuichyk1 Fedir F. Sizov1 | |
| 关键词: ellipsometry; passivation CdTe films; methods of calculating film parameters; | |
| DOI : | |
| 学科分类：光谱学 | |
| 来源: Politechnika Wroclawska * Oficyna Wydawnicza / Wroclaw University of Technology | |
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