| IUCrJ | |
| Yes, one can obtain better quality structures from routine X-ray data collection | |
| Sanjuan-Szklarz, W.F.1 Gutmann, M.1 Madsen, A.#216.1 Hoser, A.A.1 Wo#378niak, K.1 | |
| 关键词: X-RAY DIFFRACTION RESULTS; PRECISION; INDEPENDENT ATOM MODEL; TRANSFERABLE ASPHERICAL ATOM MODEL; GEOMETRIC PARAMETERS; TLS ANALYSIS; | |
| DOI : 10.1107/S2052252515020941 | |
| 学科分类：数学（综合） | |
| 来源: International Union of Crystallography | |
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