期刊论文详细信息
Active and Passive Electronic Components
Diode Physical Parameters for HEXFETs Characterization of Dose Effect
K. Raïs1  E. Bendada2 
[1] Laboratoire de Caractérisation des Composants à Semiconducteurs, Université Chouaïb Doukkali, B.P. 20, El Jadida, , Morocco, ucd.ac.ma;Département de Génie Electrique, Universuté My Ismaïl-F.S.T., B.P. 509, Errachidia, , Morocco, umi.ac.ma
关键词: diode parameters;    HEXFET;    Dose effects;   
Others  :  1369078
DOI  :  10.1155/1998/26372
 received in 1998-02-05, accepted in 1998-04-15,  发布年份 1998
PDF
【 授权许可】

   
Copyright © 1998 Hindawi Publishing Corporation 1998

【 预 览 】
附件列表
Files Size Format View
026372.pdf 593KB PDF download
  文献评价指标  
  下载次数:21次 浏览次数:25次