科研项目详细信息
超高压SOI器件的界面电荷岛耐压模型与新结构
乔明
电子科技大学
keywords:超高压器件;SOI;界面电荷岛;耐压模型;1200V
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Subject:电子与电气工程
中国|中文
2020至2020
Source: 科学基金共享服务网(科技成果信息系统)