科研项目详细信息
背照式CMOS图像传感器像素结构的累积辐射效应与机理研究
李豫东
中国科学院新疆理化技术研究所
keywords:CMOS图像传感器;背照式;像素结构;电离总剂量效应;位移损伤
keywords:
Subject:物理(综合)
中国|中文
2020至2020
Source: 科学基金共享服务网(科技成果信息系统)