科研项目详细信息
| 宇航环境下累积损伤对SOI工艺集成电路电磁兼容性的影响 | |
| 李彬鸿 | |
| 中国科学院微电子研究所 | |
| keywords:总剂量效应;绝缘体上硅;累积损伤;电磁兼容性;热载流子效应 | |
| keywords: | |
| Subject:电子与电气工程 | |
| 中国|中文 | |
| 2017至2017 | |
| Source: 科学基金共享服务网(科技成果信息系统) |
| 宇航环境下累积损伤对SOI工艺集成电路电磁兼容性的影响 | |
| 李彬鸿 | |
| 中国科学院微电子研究所 | |
| keywords:总剂量效应;绝缘体上硅;累积损伤;电磁兼容性;热载流子效应 | |
| keywords: | |
| Subject:电子与电气工程 | |
| 中国|中文 | |
| 2017至2017 | |
| Source: 科学基金共享服务网(科技成果信息系统) |