作者:Harvey, S. E.;Le Pimpea, F.;Kirby, R. E.;等
发布日期:2003
关键词:Accelerators;Breakdown;...
发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee
2 Reduction of Resistivity in Cu Thin Films by Partial Oxidation: Microstructural Mechanisms. [科技报告]
作者:Toney, M. F.
发布日期:2003
关键词:Thin films;Copper;...
发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee
作者:Summers, D. J.;Berg, J. S.;Palmer, R. B.;等
发布日期:2003
关键词:Accelerators;Muons;...
发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee
作者:Mizuno, Y., Kirby, R. E.
发布日期:2003
关键词:Copper;Electric fields;...
发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee
作者:Casper, T. A.;Burrell, K. H.;Doyle, E. J.;等
发布日期:2003
关键词:Doublet-3 Device;Plasma confinement;...
发布机构:Technical Information Center Oak Ridge Tennessee