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1 New thin materials for electronics. [科技报告]

作者:Schwartzberg, Adam

发布日期:2012

关键词:Raman Spectroscopy;Testing;...

发布机构:Sandia National Laboratories

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2 Atomic Force Microscope (AFM) measurements and analysis on Tinsley AIA-1000-003 primary substrate [科技报告]

作者:Soufli, R, Baker, S L, Robinson, J C

发布日期:2006

关键词:Substrates;36 Materials Science;...

发布机构:Lawrence Livermore National Laboratory

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3 Wave-Based Inversion & Imaging for the Optical Quadrature Microscope [科技报告]

作者:Lehman, S K

发布日期:2005

关键词:Amplitudes;Refractive Index;...

发布机构:Lawrence Livermore National Laboratory

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4 Lessons Learned on X-ray Optics Fabrication: Work completed as part of the "Advancing the Technology R&D of Tabletop Mesoscale Nondestructive Characterization" LDRD [科技报告]

作者:Pivovaroff, M J, Nederbragt, W W, Martz, H E

发布日期:2004

关键词:Specifications;42 Engineering;...

发布机构:Lawrence Livermore National Laboratory

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5 Development of a Whole-Wafer, Macroscale Inspection Software Method for Semiconductor Wafer Analysis [科技报告]

作者:Tobin, K.W.

发布日期:2003

关键词:Management;Manufacturers;...

发布机构:Oak Ridge National Laboratory

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6 Actinic Mask Inspection at the ALS Initial Design Review [科技报告]

作者:Barty, A;Chapman, H;Sweeney, D;等

发布日期:2003

关键词:Repair;Statistics;...

发布机构:Lawrence Livermore National Laboratory

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