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1 Probing three-dimensional surface force fields with atomic resolution: Measurement strategies, limitations, and artifact reduction [期刊论文]

来源：Beilstein Journal of Nanotechnology , 2012

作者:Eric I. Altman;Harry Mönig;Omur E. Dagdeviren;等

关键词:atomic force microscopy;force spectroscopy;...

使用许可:Unknown

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2 Probing three-dimensional surface force fields with atomic resolution: Measurement strategies, limitations, and artifact reduction [期刊论文]

来源：Beilstein Journal of Nanotechnology , 2012

作者:Eric I. Altman;Harry Mönig;Omur E. Dagdeviren;等

关键词:atomic force microscopy;force spectroscopy;...

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