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1 A Quantitative Analysis of Tunneling Current in A MOS Cell for ALow-Voltage Microcontroller [期刊论文]

来源：Active and Passive Electronic Components

作者:M. Grado-Caffaro, M. A. Grado-Caffaro

关键词:oxide thickness;EEPROM;...

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2 A Quantitative Analysis of Tunneling Current in A MOS Cell for ALow-Voltage Microcontroller [期刊论文]

来源：Active and Passive Electronic Components

作者:M. Grado-Caffaro, M. A. Grado-Caffaro

关键词:oxide thickness;EEPROM;...

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