全选
【符合条件的数据共:1条】
作者:Erofeev, M.V.^1,2;Shulepov, M.A.^1;Oskomov, K.V.^1;等
关键词:Comparative analysis;Microhardness measurement;...
会议举办机构:Institute of High Current Electrons, 2/3 Akademichesky ave., Tomsk
会议时间:2015
作者:Erofeev, M.V.^1,2;Shulepov, M.A.^1;Oskomov, K.V.^1;等
关键词:Comparative analysis;Microhardness measurement;...
会议举办机构:Institute of High Current Electrons, 2/3 Akademichesky ave., Tomsk
会议时间:2015