• 已选条件:
  • × 200093, China^2
  • × X-ray diffraction spectrum
 全选  【符合条件的数据共:1条】

作者:Wang, Xiaoping^1,2, Zhang, Ao^1, Wang, Lijun^1

关键词:As-deposited thin films;Diffraction spectra;...

会议举办机构:College of Science, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai

会议时间:2018

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