• 已选条件:
  • × International Conference on Advances in Materials and Manufacturing Applications 201
  • × Simple beams
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作者:Kumar, K Arun^1, Reddy, D Mallikarjuna^1

关键词:Curvature method;Detection process;...

会议举办机构:School of Mechanical Engineering, VIT University, Vellore, India^1

会议时间:2016

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