• 已选条件:
  • × National Research Tomsk Polytechnic University, Tomsk, Russia^1
  • × Power circuit
 全选  【符合条件的数据共:1条】

作者:Muravlev, I.O.^1;Surkov, M.A.^1;Tarasov, E.V.^1;等

关键词:Contact gaps;Dielectric strengths;...

会议举办机构:National Research Tomsk Polytechnic University, Tomsk, Russia^1

会议时间:2017

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