• 已选条件:
  • × Electron Microscopy and Analysis Group Conference 201
  • × High carrier mobility
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作者:Dias, J.^1;Kidambi, P.R.^2;Hofmann, S.^2;等

关键词:Chemical vapour deposition;Electron back-scattered diffraction;...

会议举办机构:Department of Materials Science and Metallurgy, University of Cambridge, CB3 0FS Cambridge, United Kingdom^1

会议时间:

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