全选
【符合条件的数据共:1条】
作者:Anding, K.^1, Kuritcyn, P.^1, Garten, D.^2
关键词:Automated inspection;Automatic visual inspection;...
会议举办机构:Ilmenau University of Technology, Gustav-Kirchhoff-Platz 2, Ilmenau
会议时间:2016
作者:Anding, K.^1, Kuritcyn, P.^1, Garten, D.^2
关键词:Automated inspection;Automatic visual inspection;...
会议举办机构:Ilmenau University of Technology, Gustav-Kirchhoff-Platz 2, Ilmenau
会议时间:2016