• 已选条件:
  • × 2016 Joint IMEKO TC1-TC7-TC13 Symposium: Metrology Across the Sciences: Wishful Thinking
  • × Color and texture features
 全选  【符合条件的数据共:1条】

作者:Anding, K.^1, Kuritcyn, P.^1, Garten, D.^2

关键词:Automated inspection;Automatic visual inspection;...

会议举办机构:Ilmenau University of Technology, Gustav-Kirchhoff-Platz 2, Ilmenau

会议时间:2016

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