• 已选条件：
  • × 12th International Workshop on Low Temperature Electronic
  • × 10598, United States^1
 全选  【符合条件的数据共：1条】

1 Fast, high-fidelity readout of multiple qubits [会议论文]

作者:Bronn, N.T.^1;Abdo, B.^1;Inoue, K.^1;等

关键词:Control electronics;Fast readout;...

会议举办机构:IBM T.J. Watson Research Center, 1101 Kitchawan Rd, Yorktown Heights

会议时间:2017

预览  |  原文链接  |  全文  [ 浏览：22 下载：2  ]