会议论文

已选条件：
× 100049, China^2
× Secondary electrons

全选【符合条件的数据共：1条】

1 Research on image monitoring method of electron beam selection melting [会议论文]

作者:Wang, Jiaming^1^2;Yin, Bohua^1^2;Xu, Guanglu^2;等

关键词:Backscattered electrons;Detection methods;...

会议举办机构:Institute of Electrical Engineering, Chinese Academy of Sciences, Beijing

会议时间:2019

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摘要

京公网安备340104078870146号 878987797 028-85220240

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