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A New Method to Measure Random-Coincidence Backgrounds with Reduced Statistical and Systematic Uncertainties

O'Donnell, John M.¹
[1] Los Alamos National Laboratory
关键词: Instrumentation Related to Nuclear Science & Technology(46); Mathematics & Computing(97); Nuclear Physics & Radiation Physics(73) background measurements; coincidence; statistical uncertainties; systematic uncertainties; chi-nu;
DOI : 10.2172/1170263 RP-ID : LA-UR-15-21062 PID : OSTI ID: 1170263
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来源: SciTech Connect
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