期刊论文

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Serbian Journal of Electrical Engineering
C-V and I-V characterisation of CdS/CdTe thin film solar cell using defect density model

Pal Debashish¹ Das Soumee²
[1] Department of Material Science and Engineering, Tripura University, India;IBM India Pvt. Ltd. Kolkata, India;
关键词: cds/cdte; conduction band offset; debye length; mott-schottkyplot; numerical modeling; scaps-1d; spectral response;
DOI : 10.2298/SJEE2102255P
来源: DOAJ


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