期刊论文

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Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems
Exploring the Effect of Device Aging on Static Power Analysis Attacks

Thorben Moos¹ Amir Moradi¹ Naghmeh Karimi²
[1] Ruhr University Bochum, Horst Görtz Institute for IT Security;University of Maryland, Baltimore County;
关键词: Leakage Current; Static Leakage Analysis; Side-Channel Analysis; Device Aging;
DOI : 10.13154/tches.v2019.i3.233-256
来源: DOAJ


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