Análise estrutural de uma hidroxiapatita carbonatada pelo método de Rietveld aplicando funções de perfil diferentes

Rem: Revista Escola de Minas

Jorge C. De Araújo²  Elizabeth L. Moreira¹  Valéria Conde Alves Moraes¹  Ana Paula D. Moreira¹ 

[1] ,Universidade do Estado do Rio de Janeiro Departamento de Matemática

关键词: Hidroxiapatita carbonatada;    refinamento Rietveld;    difração de raios X;    análise estrutural;    Carbonated hydroxyapatite;    Rietveld refinement;    X-Ray;   

DOI  :  10.1590/S0370-44672008000400012

来源: SciELO

【 摘 要 】

A estrutura cristalina de uma hidroxiapatita sintética com 12,8(±0,64)% em peso de íons CO3(2-) foi analisada por difração de raios X através do método de Rietveld de refinamento utilizando as funções Pearson VII e pseudo-Voigt para o ajuste do perfil. Os resultados obtidos para os parâmetros da célula unitária, quando comparados à amostra de referência de hidroxiapatita, mostraram contração do parâmetro a (=b) e uma expansão do c, não havendo variações significativas para as diferentes funções de ajuste utilizadas. A separação dos alargamentos anisotrópicos das reflexões decorrentes das microdeformações da célula unitária indicou que esse efeito é dominante no alargamento das linhas de reflexão, notadamente para os planos (hkl) com distância interplanar inferior a 2,24 Å. Foram notadas modificações nas coordenadas atômicas dos átomos do C nos sítios referentes aos grupos PO4(3-) (sítio B) e OH- (sítio A). Os tamanhos médios dos cristalitos em nanômetros estimados nas direções (002) e (300) mostraram morfologia aproximadamente equiaxial. Os valores para o teor em peso de íons carbonato na amostra foram de 11,72 (±0,64)% com a Pearson VII e 13,20 (±0,64)% com a função pseudo-Voigt. O refinamento dos fatores ocupacionais dos átomos de C nos dois sítios considerados PO4(3-) (B) e OH- (A) indicou maior presença desse íon no sítio B. Entretanto a ocupação relativa do átomo C no sítio B foi menor do que a observada no sítio A.

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