| Optica Applicata | |
| Configuration of systems for testing thermal imagers | |
| Xianmin Li1 Krzysztof Chrzanowski1 | |
| 关键词: thermal imaging; infrared; metrology; | |
| DOI : | |
| 学科分类：光谱学 | |
| 来源: Politechnika Wroclawska * Oficyna Wydawnicza / Wroclaw University of Technology | |
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