| Optica Applicata | |
| Investigation of the topography of magnetron-deposited Cu/Ni multilayers by X-ray reflectometry and atomic force microscopy | |
| Jaroslaw Kanak1 Edyta Kulej1 Barbara Kucharska1 | |
| 关键词: multilayers Cu/Ni; X-ray reflectometry (XRR); atomic force microscopy (AFM); roughness; | |
| DOI : | |
| 学科分类：光谱学 | |
| 来源: Politechnika Wroclawska * Oficyna Wydawnicza / Wroclaw University of Technology | |
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