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Optica Applicata
Properties and origin of oval defects in epitaxial structures grown by molecular beam epitaxy
Anna SZERLING1  Anna WOJCIK-JEDLINSKA1  Maciej BUGAJSKI1  Kamil KOSIEL1  Mariusz PLUSKA1 
关键词: oval defects;    A3B5;    molecular beam epitaxy (MBE);    spectrally resolved photoluminescence;    scanning electron microscopy (SEM);    cathodoluminescence;   
DOI  :  
学科分类：光谱学
来源: Politechnika Wroclawska * Oficyna Wydawnicza / Wroclaw University of Technology
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