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Bulletin of materials science | |
Synthesis and characterization of ternary compound, Mn2SnTe4 | |
Gerzon E Delgado1  Luis Betancourt2  Jines E Contreras1  Asiloé J Mora1  | |
[1] Laboratorio de CristalografÃa, Departamento de QuÃmica, Departamento de FÃsica, Facultad de Ciencias, Universidad de Los Andes, Mérida 5101, Venezuela$$Laboratorio de CristalografÃa, Departamento de QuÃmica, Departamento de FÃsica, Facultad de Ciencias, Universidad de Los Andes, Mérida 5101, VenezuelaLaboratorio de CristalografÃa, Departamento de QuÃmica, Departamento de FÃsica, Facultad de Ciencias, Universidad de Los Andes, Mérida 5101, Venezuela$$;Laboratorio de Magnetismo en Sólidos, Departamento de FÃsica, Facultad de Ciencias, Universidad de Los Andes, Mérida 5101, Venezuela$$Laboratorio de Magnetismo en Sólidos, Departamento de FÃsica, Facultad de Ciencias, Universidad de Los Andes, Mérida 5101, VenezuelaLaboratorio de Magnetismo en Sólidos, Departamento de FÃsica, Facultad de Ciencias, Universidad de Los Andes, Mérida 5101, Venezuela$$ | |
关键词: Semiconductor; chemical synthesis; X-ray powder diffraction; Rietveld refinement; crystal structure.; | |
DOI : | |
学科分类:材料工程 | |
来源: Indian Academy of Sciences | |
【 摘 要 】
Mn2SnTe4 was synthesized by direct fusion using the anneal method. X-ray powder diffraction analysis indicated that this material crystallizes in the olivine-type structure, space group ð‘ƒð�?��?�ð�?�šð�?��?, ð‘�? = 4, with unit cell parameters: ð‘�? = 14.020(2) Ã�?, ð‘�? = 8.147(1) Ã�?, ð‘�? = 6.607(1) Ã�?, ð‘�?? = 754.7(2) Ã�?3. The Rietveld refinement converged to the figures of merit, ð‘�??p = 6.9%, ð‘�??wp = 8.5%, ð‘�??exp = 6.0%,ðœ�?2 = 2.0 and ð‘�?? = 1.4.
【 授权许可】
Unknown
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