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IUCrJ
Whole-pattern fitting technique in serial femtosecond nanocrystallography
Dilanian, R.A.1  Stretsov, V.A.1  Martin, A.V.1  Williams, S.R.1  Quiney, H.M.1 
关键词: PROTEIN NANOCRYSTALLOGRAPHY;    PEAK-SHAPE ANALYSIS;    WHOLE-PATTERN FITTING;    X-RAY FREE-ELECTRON LASERS;    NANOCRYSTALS;    SFX;    PROTEIN STRUCTURE;    XFEL;   
DOI  :  10.1107/S2052252516001238
学科分类：数学（综合）
来源: International Union of Crystallography
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