| IUCrJ | |
| Advanced electron crystallography through model-based imaging | |
| Van Aert, S.1 Martinez, G.T.1 Van Dyck, D.1 Van Tendeloo, G.1 den Dekker, A.J.1 Bals, S.1 De Backer, A.1 | |
| 关键词: TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; QUANTITATIVE ANALYSIS; STATISTICAL PARAMETER ESTIMATION; EXPERIMENTAL DESIGN; STRUCTURE REFINEMENT; | |
| DOI : 10.1107/S2052252515019727 | |
| 学科分类：数学（综合） | |
| 来源: International Union of Crystallography | |
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