| IUCrJ | |
| Capability of X-ray diffraction for the study of microstructure of metastable thin films | |
| W#252stefeld, C.1 Motylenko, M.1 Rafaja, D.1 Dopita, M.1 Baehtz, C.1 | |
| 关键词: METASTABLE THIN FILMS; MICROSTRUCTURE; X-RAY DIFFRACTION; | |
| DOI : 10.1107/S2052252514021484 | |
| 学科分类：数学（综合） | |
| 来源: International Union of Crystallography | |
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