Microstructure characterization of a duplex stainless steel weld by electron backscattering diffraction and orientation imaging microscopy techniques

Materia

Modenesi, Paulo J.¹  Aguiar, Isabela Viegas¹  Santos, Dagoberto Brandão¹  Escobar, Diana Pérez¹ 

[1] Universidade Federal de Minas Gerais, Belo Horizonte, Brazil

关键词: Aço inoxidável duplex;    soldagem;    textura;    EBSD;    MEV.;   

DOI  :  10.1590/S1517-707620150001.0022

学科分类：工程和技术（综合）

来源: Universidade Federal do Rio de Janeiro * Coordenacao dos Programas de Pos-Graduacao de Engenharia

【 摘 要 】

Este artigo descreve o uso da técnica de difração de elétrons retroespalhados (EBSD) para caracterizar a microestrutura (especialmente a sua morfologia e constituição) do metal base (MB), zona termicamente afetada (ZTA) e zona fundida (ZF) de um aço inoxidável "lean" duplex (AILD). Esta técnica fornece vantagens devido à sua simplicidade de uso e maior densidade de informação em comparação com a obtida por técnicas tradicionais de caracterização como as microscopias óptica (MO), eletrônica de varredura (MEV) e eletrônica de transmissão (MET). O uso de EBSD juntamente com microscopia de orientação de imagem (OIM) para compreender as diferentes transformações de fase ferrita-austenita é discutido. Medidas de microdureza Vickers foram feitas e não foi achada nenhuma diferença significativa entre as diferentes zonas. A função distribuição de orientação dos grãos (FDO) mostrou que na há mudanças significativas na textura cristalográfica nas amostras após a solda. As vantagens do uso de microscopia eletrônica de varredura juntamente com EBSD para analisar a microestrutura e o desenvolvimento da textura são também discutidas.

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